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Artigo n.º:
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Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
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Detalhes do produto
- Originally published in 2005, this book covers the closely related techniques of electron microprobe analysis (EMPA) and scanning electron microscopy (SEM) specifically from a geological viewpoint. Topics discussed include: principles of electron-target interactions, electron beam instrumentation, X-ray spectrometry, general principles of SEM image formation, production of X-ray 'maps' showing elemental distributions, procedures for qualitative and quantitative X-ray analysis (both energy-dispersive and wavelength-dispersive), the use of both 'true' electron microprobes and SEMs fitted with X-ray spectrometers, and practical matters such as sample preparation and treatment of results. Throughout, there is an emphasis on geological aspects not mentioned in similar books aimed at a more general readership. The book avoids unnecessary technical detail in order to be easily accessible, and forms a comprehensive text on EMPA and SEM for geological postgraduate and postdoctoral researchers, as well as those working in industrial laboratories.
| Publisher | Cambridge University Press |
| Publication date | June 10, 2010 |
| Edition | 2nd |
| Language | English |
| Print length | 212 pages |
| ISBN-10 | 052114230X |
| ISBN-13 | 978-0521142304 |
| Item Weight | 12 ounces (340.2 grams) |
| Dimensions | 6.69 x 0.48 x 9.61 inches (17 x 1.2 x 24.4 cm) |
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Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
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